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光谱椭偏仪价格

膜厚分析测量设备则是通过膜厚分析仪和可调磁场，精确测量膜层的厚度及其均匀性，价值60万，与超净真空镀膜设备配合使用的“椭偏仪”已签署意向合同，预计将进一步提升研究的精度。

FS-8的价格定位在单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等价位，其广泛适用于研究实验室、超净间、原位工艺腔体以及工业质量控制等多种环境。它在测量膜厚和折射率方面表现出色，具有标准配置下的高精度和准确性。FS-8还具备In Situ在线测量功能，配备紧凑自动mapping样品台，能快速、准确地测量薄膜均匀性。

在科技日新月异的今天，一款超级便捷的测量神器——椭圆偏振光谱仪（ellipsometer）横空出世，它以精准的无损测量技术，引领光学分析的新纪元。这款仪器的核心原理是通过测量光的偏振状态变化，特别是菲涅尔反射系数，揭示材料的光学特性，如折射率和薄膜厚度。

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